倒置金相顯微鏡 ，由于試樣觀察面向下與工作臺表面重合，觀察物鏡位于工作臺的下面，向上觀察，這種觀察形式不受試樣高度的限制，在制備試樣時只要一個觀察面平整，因此工廠實驗室、科研機構(gòu)院校教學普遍選用。倒置金相顯微鏡底座支承面積較大，重心較低，安全平穩(wěn)可靠，目鏡與支承面呈45℃傾斜，觀察舒適。

 

正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，因為符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了*的方便。除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。另外外置攝相系統(tǒng)可以方便的連接視屏和計算機進行實時和靜動態(tài)的圖像觀察、保存和編輯、打印結(jié)合各種軟件能進行更專業(yè)的金相、測量、互動教學領(lǐng)域的需要。